目的 應(yīng)用基于局部一致性（ReHo）、低頻振幅（ALFF）、低頻振幅分?jǐn)?shù)（fALFF）的靜息態(tài)功能磁共振成像（Resting-state functional magnetic resonance imaging，RS-fMRI）技術(shù)，探索伴中央顳區(qū)棘波的兒童良性癲癇（Benign epilepsy of childhood with centrotemporal spikes，BECT）患兒認(rèn)知功能受損的影響因素及神經(jīng)機(jī)制。 方法 納入 2015 年 4 月?2018 年 3 月就診于天津醫(yī)科大學(xué)總醫(yī)院的 BECT 患兒 14 例，均行韋氏智力量表評估、長時程視頻腦電圖（VEEG）監(jiān)測及頭顱核磁共振（MRI）、RS-fMRI 檢查，計算慢波睡眠期棘慢波放電指數(shù)（SWI）、總智商（FIQ）、言語智商（VIQ）、操作智商（PIQ）。按 FIQ 分為兩組：FIQ <90 組［70～89 分，平均（78.3±8.9）分，6 例］和 FIQ≥90 組［90～126 分，平均（116.6±12.9）分，8 例］，將兩組進(jìn)行對比，并分析臨床因素與智力評估結(jié)果的相關(guān)性；從 ReHo、ALFF、fALFF 三種方法對兩組進(jìn)行全腦水平兩獨立樣本t 檢驗，觀察腦激活區(qū)的差異；結(jié)合臨床因素、認(rèn)知測評結(jié)果進(jìn)行綜合對比分析。 結(jié)果 FIQ <90 組的 SWI 高于 FIQ≥90 組，差異具有統(tǒng)計學(xué)意義（ P<0.05）。FIQ、VIQ、PIQ 均與 SWI 呈負(fù)相關(guān)（P<0.05）；FIQ、PIQ 均與總發(fā)作次數(shù)呈負(fù)相關(guān)（P<0.05）。FIQ <90 組與 FIQ≥90 組相比較，激活減弱的腦區(qū)包括雙側(cè)楔前葉、后扣帶回及枕葉，增強(qiáng)的腦區(qū)包括左側(cè)前額葉，雙側(cè)額上回內(nèi)側(cè)，右側(cè)中央前回、補(bǔ)充運(yùn)動區(qū)、角回、緣上回及顳中回，雙側(cè)島葉及皮層下灰質(zhì)結(jié)構(gòu)。 結(jié)論 慢波睡眠期頻繁癇樣放電及反復(fù)臨床發(fā)作是 BECT 認(rèn)知受損的危險因素，兩者可引起與認(rèn)知相關(guān)的局部腦區(qū)及默認(rèn)網(wǎng)絡(luò)的功能異常，從而導(dǎo)致其認(rèn)知受損。